产品介绍
BT-50IR系列红外显微镜是利用红外光波段对样品进行观察和分析的显微镜。由于红外线的波长比可见光长，因此红外显微镜能够穿透一些可见光无法穿透的材料，如Si(硅)、GaAs(砷化镓)等半导体材料有良好的红外光透过性，可用于观察以上这类半导体器件的内部；
红外显微镜的应用
Vcsel芯片隐裂（cracks）、InGaAs瑕疵红外无损检测
die chip 失效分析
红外透射Wafer正反面定位标记重合误差无损测量；
硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底无损红外检测
太阳能电池组件综合缺陷红外检测
