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BTW-BX53IR 近红外显微镜

分类:红外显微镜 发布时间:2024-02-08 2506 次浏览

红外显微镜的定义:红外显微镜,顾名思义以红外线为光源的 显微镜,就是红外显微镜。 (普通显微镜是以可见光为光源的)。

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    地 址:苏州市相城区太平街道蠡太路2号
    网 址:http://www.szbtwgd.com
    产品介绍

     


    红外显微镜的定义

    • 红外显微镜,顾名思义以红外线为光源的

    显微镜,就是红外显微镜。

    (普通显微镜是以可见光为光源的)。


    红外显微镜的应用

    – Vcsel芯片隐裂(cracks)、InGaAs瑕疵红外无损检测

    – 法拉第激光隔离器,Faraday Isolator近红外无损检测

    – die chip 失效分析

    – 红外透射Wafer正反面定位标记重合误差无损测量

    – 硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底无损红外检测

    – 太阳能电池组件综合缺陷红外检测

    -可穿透型新型材料

     

     

    BTW-BX53IR近红外显微镜是以红外线不可见光为光源,能穿透1mm以内硅材料,配备4-12寸移动行程载物台,通过近红外相机把图像补足后输出到电脑屏幕上,可以进行拍照 、测量等。主要用于半导体行业对于芯片隐裂、倒装芯片、MEMS器件等无损检测。

     

    一、基本配置(更多配置请致电咨询)

    1、显微镜机架:含前置底位粗微同轴调焦机构

    2、照明器:带视场光阑和孔径光阑,

    3、红外观察筒:含红外相机接筒,双摄光路(选配)

    4、红外灯箱:12V100W卤素灯

    5、红外物镜

    Olympus LMPLN5XIR:5X/0.10 ,W.D. 23;

    Olympus LMPLN10XIR:10X/0.30, W.D.23;

    Olympus LCPLN20XIR:20X/0.45, W.D.8.3,带校正环;

    Olympus LCPLN50XIR:50X/0.65, W.D.4.5,带校正环;

    6、物镜转换器:5孔手动

    7、红外相机:红外相机BT-IMX993 ;Sony IMX993 SenSWIR InGaAs 传感器;具备 2048×1536 分辨率与 3.45 µm 像元尺寸;覆盖 400–1700 nm 光谱范围,支持 USB3、10GigE、CoaXPress、CameraLink、GigE 等接口,兼顾高速与高画质。

    彩色相机BT-E3CMOS12000KPA,12MP彩色CMOS相机,采用Sony IMX226传感器,提供高分辨率彩色成像能力。配备Ultra-Fine硬件颜色引擎,确保精准色彩还原。USB3.0高速接口支持4K分辨率记录,适合教学显微成像和在线检测应用;8、红外截止片:1100nm,1200nm,1400nm,

    9、载物台(选配)

    10、晶圆转盘(选配)

    11、电脑:品牌台式机,I3处理器/16G内存/500G固态硬盘/21.5寸LCD

     

    可选配

    二、BT-400IR近红外相机

    1、大靶面,高分辨率:420万像素,1/2英寸靶面;

    2、真实色彩还原:所见即所得级别的色彩还原,ΔE<3;

    3、低噪声,高灵敏度:低至2e-读出噪声;

    4、深度制冷:二级TEC制冷,可达环境温度以下10°C;

    5、独立密封舱设计:有效防止相机长时间低温工作时出现结露

    6、内置大容量图像缓存:2Gb图像缓存,确保传输稳定性

     

     

     

    三、奥林巴斯红外物镜

     

     

     

     

    四、应用案例图片

     

                                             CSP/SIP的非破坏检查

     

     

                                           Vcsel芯片隐裂(cracks)


                                              die chip 失效分析


     

                               法拉第激光隔离器胶合偏振片无损检验

     

                         红外Wafer正反面定位标记重合误差无损测量

     

     

    硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底缺陷无损红外检测

     

     

     

                                      太阳能电池组件综合缺陷红外检测


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