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BT-1200探针台

分类:半导体探针台显微镜 发布时间:2024-09-27 262 次浏览

集成电路失效分析,晶元可靠性认证,元器件特性量测,塑性过程测试(材料特性 分析),制成监控,IC封装阶段打线品质 测试,ESD和TDR测试,微波量测(高频),Solar太阳能领域检测分析,LED 、OLED 、LCD领域检测分析

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    联系人:孙工
    手 机:13382187151
    地 址:江苏省苏州市相城经济技术开发区蠡太路2号
    网 址:http://www.szbtwgd.com
    产品介绍

    BT-1200 probe station

     

    性能指标

    备注

    可测圆片尺寸

    4,6 ,8 12inch


     

     

     

    CHUCK

    行程

    X/Y:305×305mm (Air-bearing stage 技术)含锁死装置


    分辨率

    m



    控制

    进口导轨



    平面度

    ≤5μm

    背面需要加电 极(可选)


    晶圆固定方式

    真空吸附,分档控制


    Chuck Z轴(可选)

    行程

    10mm



    分辨率

    m


    Chuck θ轴(可选)

    微调范围

    ±5 º (分辨率为0.1 ° )


     

    Platen 平台

    材料

    非抛光型不锈钢+特种铝合金制



    快速升降

    10mm ,上下微调行程:30-50mm  精度1 um



    容量

    6-8个DC针座或者4个RF针座


     

     

     

     

     

    显微镜

     

     

     

    配置

    体式显微镜

    1. 目镜:20X 2.变倍范围:0.75X-5X

    3。总放大倍数:15x-100x 4.LED 光源照明 金相显微镜

    1. 目镜:20x 2.Zoom:1-2x 3.物镜:2x,10x,20x,50x 4.总放大倍数:20x-1000x 5.光纤光源系统

     

     

    根据客户测试 参数要求而定


    行程

    X/Y:2 inch x 2inch (分辨率:1um)  Z: 2inch



    气动升降

    显微镜气动升降便于更换物镜


    屏蔽罩(可选)

    L1350*W900*H1300mm


    防震桌(可选)

    W*D*H:1100*800*900mm



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