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BT-600探针台

分类:半导体探针台显微镜 发布时间:2024-09-27 294 次浏览

集成电路失效分析,晶元可靠性认证,元器件特性量测,塑性过程测试(材料特性 分析),制成监控,IC封装阶段打线品质 测试,ESD和TDR测试,微波量测(高频),Solar太阳能领域检测分析,LED 、OLED 、LCD领域检测分析

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    联系人:孙工
    手 机:13382187151
    地 址:江苏省苏州市相城经济技术开发区蠡太路2号
    网 址:http://www.szbtwgd.com
    产品介绍

    BT-600 probe station

     

    性能指标

    备注

    可测圆片尺寸

    4,6 inch


     

    气浮式快速移动行程

    X/Y: ≥178mm,包含锁定保护

    CHUCK 直径≥155mm


     

     


     

     


     

     

     

     

     


     

     


     

     

     



     

     


     

     

     


     

    Platen 平台

    材料

    非抛光型不锈钢+特种铝合金制



    可实现在档驻停操作

    0 点针、300um 分离、3mm 架针



    容量

    6-8个DC针座或者4个RF针座


     

     

     

     

     

     

     

    显微镜

     

     

     

     

     

    配置

    1)体式显微镜 目镜:20X

    变倍范围:0.75X-5X

    总放大倍数:15x-100x

    LED 光源照明 金相显微镜

    目镜:20x  Zoom:1-2x

    物镜:2x,10x,20x,50x 总放大倍数:20x-1000x

    光纤光源系统

     

     

     

     

     

    根据客户测试参数要求而定


    行程

    X/Y:2 inch x 2inch (分辨率: 1um)  Z: 2inch


    屏蔽罩(可选)

    L1350*W900*H1300mm


    防震桌(可选)

    W*D*H:1100*800*900mm



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