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BT-400探针台

分类:半导体探针台显微镜 发布时间:2024-09-27 319 次浏览

集成电路失效分析,晶元可靠性认证,元器件特性量测,塑性过程测试(材料特性 分析),制成监控,IC封装阶段打线品质 测试,ESD和TDR测试,微波量测(高频),Solar太阳能领域检测分析,LED 、OLED 、LCD领域检测分析,科研教学

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    联系人:孙工
    手 机:13382187151
    地 址:江苏省苏州市相城经济技术开发区蠡太路2号
    网 址:http://www.szbtwgd.com
    产品介绍

    BT-400 probe station

     

    性能指标

    备注

     

     

    可测圆片尺寸

    4 inch & 4 inch以下


     


    X、Y工作台(带锁死旋钮)

    行程

    X/Y:100mm×100mm


    移动精度

    10 μm


    控制

    CHUCK

    平面度 小于2um



    CHUCK 360度旋转(选配)

    CHUCK 微调±15 ° 精度:0.01 °


     

     

    晶圆固定方式

    真空吸附,分档控制

    中心吸附和3圈吸附方式



    CHUCK 加香蕉插头(选配)

    背部加电



    Chuck Z轴(可选)

    行程

    10mm

    Chuck θ轴(可选)

    Platen 平台

    材料

    非抛光型不锈钢+特种铝合 金制

     

    容量

    4个DC针座或者2个RF针座




    上、下片

    方式

    手动

     

     

     

    显微镜

     

     

    配置

    体式显微镜: 目镜:20X

    变倍范围:0.75X-5X

    总放大倍数:15x-100x LED 光源照明


    显微镜移动机构(选配)

    X/Y: ±25mm 方便多点下针

    屏蔽罩(可选)

    L800*W600*H1100mm


    防震桌(可选)

    W*D*H:1100*800*900mm




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