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芯片计数视觉检测方案

分类:视觉自动化方案 发布时间:2024-02-14 324 次浏览

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    联系人:孙工
    手 机:13382187151
    地 址:江苏省苏州市相城经济技术开发区蠡太路2号
    网 址:http://www.szbtwgd.com
    产品介绍

    1 .视觉检测要求和检测方法

    检测要求:

    1)计算芯片中心坐标,芯片长宽,芯片偏移角度。计算芯片中心基准点,如右图

    2)计算芯片数量。

    3)读取产品背面二维码。

    4)将测量的数据和二维码发给上位机

     

    检测方法:

    1)1200万相机检测芯片中心坐标,芯片长宽,芯片偏移角度。

    2)1200万相机检测视野约82*62mm,系统分辨率0.02mm/pixel。

    3)500万相机读二维码。

    4)500万相机检测视野约81*61mm,系统分辨率0.031mm/pixel。

    1685262888138433.jpg

    2.视觉系统配置

     1685262174366372.png








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