在DIC显微镜中，DIC指的是微分干涉对比法，这是一种显微镜光学对比技术，通过其可以获得充足的对比度和分辨率，从而观察到未染色的生物标本的细胞结构，它也能帮助观察材料表面上小的高度差异。主要是利用偏振光和样本的厚度或光密度差异，这种差异会导致通过样本的光发生相移。可广泛应用于生命科学、半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，是现代科学研究中重要的工具之一。 它的工作原理是利用相干光干涉现象，将样品表面形貌的变化转化为光程差。利用位置敏感探测器检测光波前的强度变化，并通过数字信号处理得到样品表面的高度变化。同时，该技术还可以通过调节相对相位差，实现多种光程差的测量，从而得到更为精细的表面形貌信息。

半导体工业：它可以通过非接触测量方式，对半导体芯片的表面精度进行在线监测，提高了芯片生产过程的可靠性和效率。PCB质量检测：PCB表面和内部的细微缺陷，如开路，短路，裂纹，孔径问题等，以及判断PCB中焊点的质量和表面光洁度。精密机械制造：它可以用于精密机械零件的表面质量检测和加工过程的监控，从而提高了机械制造的精度和可靠性。